寄存器相关实验
实验一
一、 实验目的 二、 实验设备 三、 工作原理(图)
四、 实验内容与结果 实验内容:
3种置数方式(进位保持、进位清零、进位置1),分别设置2组数据。每个数据,分别验证5种操作(保持、循环右移、带进位循环右移、循环左移、带进位循环左移),并将结果以表格形式,列在下面,注意进位Z 标志,一并记录。
实验结果:
实验二 移位运算实验内容
1、 往移位寄存器置数(进位清零)000FH ,分别执行功能“循环右移”4次和“循环左移”
4次后的结果(包括进位标识Z 及进位指示灯的状态);
2、 往移位寄存器置数(进位置1)000FH ,分别执行功能“带进位循环右移”8次和“带进
位循环左移”8次后的结果;
3、 往移位寄存器置数(进位置1)8E60H ,执行功能“带进位循环右移”4次,再执行“循
环左移”4次后的结果;
4、 往移位寄存器置数(进位置1)1080H 后,执行功能“带进位循环左移”4次后的结果;
执行“循环左移”4次后的结果;
5、 置数(进位保持)3A00H ,执行功能“带进位循环右移”4次,执行功能“循环右移”4次,
执行功能“保持”后的结果。
结果记录参考格式 例:
置数(进位清零) 执行功能 执行结果 进位及指示灯状态 000FH “循环右移”4次 0F000H 0 灭
实验三 存储器读写和总线控制实验
实验内容
1、通过数据总线,输入地址00H ,读出此内存单元的值;再输入地址10H ,读出此内存单元值;输入地址20H ,读出此内存单元值;这些值代表什么?输入地址30FFH ,此时存储的地址单元是多少?
2、往RAM 的任意地址存放十组以上的数据,然后读出并检查结果是否正确,并查看地址总线指示灯(A0。。。A7)与数据总线指示灯(D0。。。D15)的状态;
3、通过键盘操作方式,输入并验证P32页的表3-1数据。
实验五 微程序设计实验内容
1、输入和验证实验材料P52页表5-3微代码并运行;
2、参照P50页表5-2的微代码格式,试着编写8条简单的微代码,使之能循环运行,并参照表5-2下的微代码含义说明写出各条微代码含义。 例:
微地址 微代码
100000 000000 0 11 101 111 111 100010(二进制) 100000 0 1 D F E 2 (十六进制)
实验六微指令
00 007F90 01 005B42 02 016FD9 03 0029C6 04 012FC5 05 0029C6 06 9403C1 07 010FC1 10 018E01 11 0041C3 12 005B47 13 02F1C1 14 005B4D 15 011F41 16 015FCF 17 014FD5 20 005B52 21 005B54 22 014FD7 23 007FC1 24 01CFD8 25 06F3C1 26 011F41 27 06F3D0 30 FF73D1 31 016E08