高速信号完整性测试法宝--去嵌De-embedded
加入测试系统的治具/探棒都会对测试数据造成影响，测试值永远不等于真实值，专业的SI Engineer，就是要使用各种技术法宝，最大限量的减少测试值与真实值之前的落差。今天我们要谈的是示波器去嵌功能。
以PCIE Signal为例，Gen2 speed 5Gb/s，Gen3 Speed高达8Gb/s，测试需要使用到SMA to SMP cable来连接PCISIG Fixture &示波器，要无损的传输5Gb/s 8Gb/s的信号，这Cable就得要特别讲究了，必须使用Low Loss的Cable（原谅我查了多份Spec未找到这个Low Loss具体指多少dB为Low Loss，大家有查到的不要吝啬分享啊）
Reference: PCI Express Architecture PHY TestSpecification, Revision 3.0
现在开始上案例：
我司研发阶段出的Report，PCIE Gen2的眼图是下面这个样子的：
客户也正在建制SI能力，拿到板卡测试结果是下面这个样子的
眼高差了90mV，降低了近30%的电平，问题出在哪里呢？
我们开始比对测试环境，通过各种交流，与客户一起将怀疑的目光投给那对连接治具和示波器的Cable，这是客户的厂商提供的样品Cable
我们建议客户要求Cable厂商提供该Cable的S-Parameter进行比对
样品厂商Cable，5GHz下 Cable Loss已达到-1.85dB
Advantech使用的Cable Loss 16GHz下仅-0.83dB
我们测试的信号是5Gb/s的PCIE Gen2 signal，保守测试到3倍基频，也要保证7.5GHz带宽内的Low Loss，通常我们会希望能测试到5倍基频，即12.5GHz带宽内要low loss，这对Cable并不适合直接用来测试PCIE Gen2 Signal。
但是，事情还未完，我们请客户将Cable样品寄给我们，并且将Cable的S-Parameter .s2p档案一并提供，我们使用的是Keysight Scope的Infinisim功能来对客户的Cable进行去嵌，即De-embedded，移除Cable的影响
Infinisim主要功能是
l“移除”测试环境中，影响测试结果的寄生效应(De-Embedded)
l“添加”测试环境中，需要模拟的环境架构(Embedded)
通过此功能将Cable Loss移除，测试的结果为
测试结果与我们的Cable测试结果仅5mV的差异了。
这里需要特别注意的是，嵌入的.s2p档案，频率响应范围一定要包含我们要测试的频率带宽，测试PCIE Gen2, 5倍基频12.5GHz，.s2p档案stop频率要设置在12.5GHz以上，本文Cable Stop频率为15GHz，满足PCIE Gen2的测试要求，我们也尝试用此Cable去嵌后测试PCIE Gen3 8Gb/s的信号，比对的结果就与我们标准Cable相差很大了，PCIE Gen3 5倍基频为20GHz
因我的工作使用Keysight Scope比较多，示例使用Keysight Scope，参考此篇文档的朋友们，可联系自己的设备厂家索寻同样的功能。