集成电路标准精选(最新)

集成电路标准精选（最新）

G4377《GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法和基本原理》 G5965《GB/T5965-2000 集成电路：双极型单片数字集成电路门电路空白详细规范》

G6798《GB/T6798-1996半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 G8976《GB/T8976-1996 膜集成电路和混合膜集成电路总规范》

G9424《GB/T9424-1998 半导体器件集成电路:CMOS数字集成电路4000B 和4000UB 》

G12750《GB/T 12750-2006 半导体器件 集成电路：半导体集成电路分规范(不包括混合电路) 》

G14619《GB/T14619-1993 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片》

G14620《GB/T14620-1993 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片》

G15651.2《GB/T15651.2-2003 半导体器件分立器件和集成电路:光电子器件基本额定值和特性》

G15651.3《GB/T15651.3-2003 半导体器件分立器件和集成电路:光电子器件测试方法》

G16464《GB/T16464-1996 半导体器件集成电路总则》

G16465《GB/T16465-1996 膜集成电路和混合膜集成电路分规范》

G16466《GB/T16466-1996 膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范》 G16878《GB/T16878-1997 用于集成电路制造技术的检测图形单元规范》 G17023《GB/T17023-1997 HCOMS数字集成电路系列族规范》

G17024《GB/T17024-1997 HCOMS数字集成电路空白详细规范》

G17572《GB/T17572-1999 半导体CMOS 集成电路：4000B 和4000UB 系列族规范》 G17573《GB/T17573-1999 半导体分立元件和集成电路：总则》

G17574《GB/T17574-1999 半导体分集成电路：数字集成电路》

G17574.9《GB/T 17574.9-2006 数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS 只读存储器空白详细规范》

G17574.10《GB/T 17574.10-2003 半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路 集成电路动态读/写存储器 空白详细规范》

G17574.11《GB/T 17574.11-2006 数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范》

G17574.20 《GB/T 17574.20-2006 半导体器件 集成电路：数字集成电路 低压集成电路族规范》

G17940《GB/T17940-2000 半导体集成电路：模拟集成电路》

G18500.1《GB/T18500.1-2001 半导体集成电路：线性数字/模拟转换器（DAG ）》 G18500.2《GB/T18500.2-2001 半导体集成电路：线性模拟/数字转换器（ADC ）》 G19248《GB/T19248-2003 封装引线电阻测试方法》

G19403.1《GB/T19403.1-2003 半导体集成电路内部目检（不包括混合电路）》 G20296《GB/T 20296-2012 集成电路记忆法与符号》

G20515《GB/T 20515-2006 半导体器件 集成电路：半定制集成电路》 G20870.1《GB/T 20870.1-2007 半导体器件:微波集成电路 放大器》

G28639《GB/T 28639-2012 DNA微阵列芯片通用技术条件》

GJ597B 《GJB 597B-2012 半导体集成电路通用规范》

GJ1799《GJB1799-1993 大规模集成电路用磷扩散源化学分析方法》

GJ2438A 《GJB 2438A-2002 混合集成电路通用规范》

GJ3233《GJB3233-1998半导体集成电路失效分析程序和方法》

QJ10006《QJ10006-2008 宇航用半导体集成电路通用规范》

SJ10741《SJ/T10741-2000 半成品集成电路CMOS 电路测试方法的基本原理》 SJ10804《SJ/T10804-2000 半成品集成电路电平转换器测试方法的基本原理》 SJ10805《SJ/T10805-2000 半成品集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 SJ11351《SJ/Z 11351-2006 用于描述、选择和转让的集成电路IP 核属性格式标准》97.80

SJ11352《SJ/Z 11352-2006 集成电路IP 核测试数据交换格式和准则规范》 SJ11353《SJ/Z 11353-2006 集成电路IP 核转让规范》

SJ11354《SJ/Z 11354-2006 集成电路模拟/混合信号IP 核规范》

SJ11355《SJ/Z 11355-2006 集成电路IP/SoC功能验证规范》

SJ11357《SJ/Z 11357-2006 集成电路IP 软核、硬核的结构、性能和物理建模规范》

SJ11358《SJ/Z 11358-2006 集成电路IP 核模型分类法》

SJ11359《SJ/Z 11359-2006 集成电路IP 核开发与集成的功能验证分类法》 SJ11360《SJ/Z 11360-2006 集成电路IP 核信号完整性规范》

SJ11361《SJ/Z 11361-2006 集成电路IP 核保护大纲》

SJ20674《SJ20674-1998微波电路系列和品种微波信号检波器系列的品种》 SJ20675《SJ20675-1998微波电路系列和品种微波固态噪声源系列的品种》 SJ20676《SJ20676-1998通信对抗固态宽频带功率放大模块通用规范》 SJ20677《SJ20677-1998微波集成PIN 单刀开关模块通用规范》

SJ20678《SJ20678-1998交换网络模块通用规范》

SJ20679《SJ20679-1998通信用户接口模块通用规范》

SJ20680《SJ20680-1998通信群路接口模块通用规范》

SJ20711《SJ20711-1998分步投影曝光机通用规范》

SJ20750《SJ20750-1999军用CMOS 电路用抗辐射硅单晶片规范》

SJ20758《SJ20758-1999半导体集成电路CMOS 门阵列器件规范》

SJ20759《SJ20759-1999混合集成电路系列与品种DC/DC变换器系列的品种》 SJ20802《SJ20802－2001集成电路金属外壳目检标准》

SJ20804《SJ20804－2001微波电路系列和品种微波衰减器系列的品种》 SJ20869《SJ 20869-2003 铌酸锂集成光学调制器测试方法》

SJ20874《SJ 20874-2003 表面安装集成电路试验用插座通用规范》 SJ20875《SJ 20875-2003 扁平封装集成电路插座通用规范》

SJ20954《SJ 20954-2006 集成电路锁定试验》

SJ20961《SJ 20961-2006 集成电路 A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》 JJG1015《JJG1015-2006 通用数字集成电路测试系统检定规程》

JJF1160《JJF 1160-2006 中小规模数字集成电路测试设备校准规范》 JJF1179《JJF 1179-2007 集成电路高温动态老化系统校准规范》

JJF1238《JJF1238-2010 集成电路静电放电敏感度测试设备校准规范》