大学物理实验报告23--PN结温度传感器特性
天津大学
物理实验报告
姓名: 专业: 班级: 学号: 实验日期: 实验教室: 指导教师:
【实验名称】 PN结物理特性综合实验 【实验目的】
1. 在室温时,测量PN结电流与电压关系,证明此关系符合波耳兹曼分布规律 2. 在不同温度条件下,测量玻尔兹曼常数
3. 学习用运算放大器组成电流-电压变换器测量弱电流
4. 测量PN结电压与温度关系,求出该PN结温度传感器的灵敏度 5. 计算在0K温度时,半导体硅材料的近似禁带宽度 【实验仪器】
半导体PN结的物理特性实验仪 资产编号:××××,型号:×××(必须填写) 【实验原理】
1.PN结的伏安特性及玻尔兹曼常数测量 PN结的正向电流-电压关系满足:
II0[exp(eU/kT)1] (1)
当expeU/kT1时,(1)式括号内-1项完全可以忽略,于是有:
II0exp(eU/kT) (2)
也即PN结正向电流随正向电压按指数规律变化。若测得PN结IU关系值,则利用(1)式可以求出
e/kT。在测得温度T后,就可以得到e/k,把电子电量e作为已知值代入,即可求得玻尔兹曼常数k。
实验线路如图1所示。
图1 PN结扩散电源与结电压关系测量线路图
2、弱电流测量
LF356是一个高输入阻抗集成运算放大器,用它组成电流-电压变换器(弱电流放大器),如图2所示。其中虚线框内电阻Zr为电流-电压变换器等效输入阻抗。
图2 电流-电压变换器
运算放大器的输入电压U0为:
U0K0Ui (3)
式(3)中Ui为输入电压,K0为运算放大器的开环电压增益,即图2中电阻Rf时的电压增益(Rf称反馈电阻)。因而有:
Is
UiU0Ui(1K0)
(4) RfRf
由(4)式可得电流-电压变换器等效输入阻抗Zx为
Zx
UiRfRf
Is1K0K0
(5)
由(3)式和(4)式可得电流-电压变换器输入电流Is与输出电压U0之间的关系式,即:
Is
UiU0
(6) ZrRf
只要测得输出电压U0和已知Rf值,即可求得Is值。 3、PN结的结电压Ube与热力学温度T关系测量。
当PN结通过恒定小电流(通常I100A),由半导体理论可得Ube与T的近似关系:
UbeSTUgo (7)
式中S2.3mV/C为PN结温度传感器灵敏度。由Ugo可求出温度0K时半导体材料的近似禁带宽度EgoqUgo。硅材料的Ego约为1.20eV。 【实验内容】
(一)IcUbe关系测定,并进行曲线拟合计算玻尔兹曼常数(UbeU1)
1、在室温情况下,测量三极管发射极与基极之间电压U1和相应电压U2。U1的值约从0.30V至0.50V范围,每隔0.01V测一相应电压U2的数据,至U2达到饱和(U2变化较小或基本不变)。在记录数据开始和结束时都要记录下变压器油的温度,取温度平均值。
o
2、改变干井恒温器温度,待PN结与油温一致时,重复测量U1和U2的关系数据,并与室温测得的结果进行比较。
3、曲线拟合求经验公式:运用最小二乘法将实验数据代入指数函数U2aexpbU1。求出相应的a和b值。
4、玻尔兹曼常数k。利用be/kT,把电子电量e作为已知值代入,求出k并与玻尔兹曼常数公认
图3 图4
值(k01.3811023)进行比较。
(二)UbeT关系测定,计算硅材料0K时近似禁带宽度Ego值。
1、通过调节图3电路中电源电压,使上电阻两端电压保持不变,即电流I100A。同时用电桥测量铂电阻RT的电阻值,得恒温器的实际温度。从室温开始每隔5℃-10℃测一组Ube值,记录。
2、曲线拟合求经验公式:运用最小二乘法,将实验数据分别代入线性回归、指数回归、乘幂回归这三种常用的基本函数(它们是物理学中最常用的基本函数),然后求出衡量各回归程序好坏的标准差。对已测得的U1和U2各对数据,以U1为自变量,U2作因变量,分别代入:(1)线性函数U2aU1b;(2)乘幂函数U2aU1b;(3)指数函数U2aexp(bU1),求出各函数相应的a和b值,得出三种函数式,究竟哪一种函数符合物理规律必须用标准差来检验。办法是:把实验测得的各个自变量U1分别代入三个基本函数,得到相应因变量的预期值U2*,并由此求出各函数拟合的标准差:
用最小二乘法对UbeT关系进行直线拟合,求出PN结测温灵敏度S及近似求得温度为0K时硅材料禁带宽度Ego。 【注意事项】
1. 数据处理时,对于扩散电流太小(起始状态)以及扩散电流接近或达到饱和时的数据,在处理数据时应删去,因为这些数据可能偏离公式(2)。
2. 必须观测恒温装置上温度计读数,待TIP31三极管温度处于恒定时(即处于热平衡时),才能记录U1和U2数据。
3. 本实验,TIP31型三极管温度可采用的范围为0-50℃。
4. 仪器具有短路自动保护,一般情况集成电路不易损坏,但请勿将二极管保护装置拆除。 【数据记录】(数据仅供参考)
1、IcUbe关系测定。 室温条件下:1 =25.90℃,2 =26.10℃,=26.00℃
2、电流I=100uA时,UbeT关系测定。
【数据处理】
1、曲线拟合求经验公式,计算玻尔兹曼常数:
根据要求用最小二乘法处理数据,假设PN结电流和电压的关系满足II0exp(eU/kT),所以先要
对公式II0exp(eU/kT)进行线性化处理。
由于U2和I是线性关系,即I=A*U2,A可视为微小电流转换为电压的转换系数。首先以U2替换I,公
式变化为AU2I0exp(eU1/kT)
两边取对数:lnU2lnI0eU1/kT-lnA, 令: lnU2=y,U1=x,lnIo-lnA=,e/Kt=b 上式变化为: yabx
ab根据最小二乘法的计算公式:
b
xy rx()
2
2
xy(x22)(y22)
(P 27页)
1n1n21k1n2
xi, xxi, yi, xyxy
ni1ni1ki1ni1
列表计算:(双击该表可见计算过程)
由此可知,相关系数r=0.99972,指数拟合的很好,也就说明PN结扩散电流-电压关系遵循指 数分布规律。计算玻尔兹曼常数,由表中数据得
e/kbT38.79(273.1526.00)1.160104CK/J
e1.6021019-23
1.3810J/K 则:k测4
e/k1.16010
2、求PN结温度传感器的灵敏度S,0K时硅材料禁带宽度Ego。
用作图法对UbeT数据进行处理:(图省略)所画的直线的斜率,即PN结作为温度传感器时
的灵敏度s2.30mV/K,表明PN结是负温度系数的。截距Ugo1.30V(0K温度); 则EgoeU1.30电子伏特。 【实验结果】
1、测量值k测1.3810-23J/K 与公认值k01.3811023J/K相当一致。
实验结果:
k测=1.3810J/K
k测k0
100%0.08%A=k0
-23
2、硅在0K温度时禁带宽度公认值Ego1.205电子伏特,上述结果与实际大小基本吻合。由于PN结温度传感器的线性范围为-50℃--150℃,在常温时,非线性项将不可完全忽略,所以本实验测得
Ego1.30电子伏特是合理的。
【问题讨论】
谈谈自己对本实验的体会与建议等。
禁带宽度(Band gap)是指一个能带宽度(单位是电子伏特(ev)).固体中电子的能量是不可以连续取
值的,而是一些不连续的能带。要导电就要有自由电子存在。自由电子存在的能带称为导带(能导电)。被束缚的电子要成为自由电子,就必须获得足够能量从而跃迁到导带,这个能量的最小值就是禁带宽度。锗的禁带宽度为0.66ev;硅的禁带宽度为1.12ev;砷化镓的禁带宽度为1.43ev。禁带非常窄就成为金属了,反之则成为绝缘体。半导体的反向耐压,正向压降都和禁带宽度有关。