一仪器分析题库填空题

仪器分析题库填空题-高级

1. 由于光具有波动性质，所以光的一个标志是它的 波长 。B （中、高）

2. 光谱仪的分辨率是指 光谱仪的光学系统能够正确分辨出紧邻两条谱线的能力 。A

3. 在光谱分析过程中由于温度的变化会使谱线偏离出射狭缝，我们在平时工作中是采用 移动入射狭缝 来进行温度补偿的。 B

4. 光谱分析中试样与W 电极组成对电极，在他们之间极性的区分为 W电极接正 ， 试样接负 ，利用 电侵蚀 原理。B

5. 苏茨试剂的作用是2 。B

6. 使用乙醚长期接触皮肤可以导致 皮肤干燥 ， 皱裂 。A

7. 常压下，当氧的浓度超过40%时，有可能发生 氧中毒 。 B

8. 本作业区为 二级 禁火单位，在仪器室内严禁吸烟。B

9. 分析仪内的冷却水不够，加水时需注意先 关闭电源 ，然后用漏斗加水，并注意不要将水加在仪器内。B

10. 激发台内部点检时，必须关闭 光源电源 。B

11. 光谱定量分析一般都采用 内标准法 。B

12. RH-600分析基线拖尾的原因主要是 滤纸脏 或 除尘管试剂失效 。B

13. 搬动气瓶时，千万要小心气瓶上的 气嘴部件 ，以防损坏。B

14. 高压气瓶应放置在阴凉安全的地方，严禁 火种 或 烈日直射 。B

15. 直读光谱仪激发室采用 氩气 作为保护气体。C

16. 误差的含义__测量值与真值的差值 _，一般它分成___系统误差_ 和__系统误差___二种。B

17. 在数理统计中，一般有平均值和标准偏差二个量，其中平均值反映了___分布的中心位置_ ，标准偏差反映了 __分布的散布大小___。B

18. 我国的实验室认可准则是等同采用 ISO/IEC 17025:1999 ，该标准的名称是 检测和校准实验室能力的通用要求 。B （初、高）

19. 检测中心的质量体系文件分四个层次组成，其中第一、二和三层为管理系统文件：第一层： 质量手册 ；第二层： 管理文件 （包括程序性、行政性和清单性文件）；第三层： 规程系列文件 （包括质量控制规程、分析试验规程、设备操作规程、设备点检规程及安全环保规程和紧急预案）；第四层： 各类质量、技术记录和档案 。B （中、高）

20. 碳硫分析规程采用的分析标准_ ASTM E1019-03 _。 B （初、中、高）

21. 氧氮分析规程采用的分析标准_ ASTM E1019-03 _。 B （初、中、高）

22. 光谱分析的国家标准_ GB/T 4336-2002 ,美国标准_ ASTM E415-99 _. B（初、中、高）

23.X 荧光仪测定碳元素一般采用流气式正比计数器。这种计数器正常工作需要提供氩甲烷气体，这种物质的组成一般为90％的氩气和10％的甲烷。 C

24.X 荧光铁样分析标准 ASTM E322-96 ; X 荧光渣样分析标准 ASTM E1031-96 B （初、中、高）

25. 在碳硫试样加工时对已沾污的试样需作如下处理 用乙醚进行清洗，清洗后必须用电吹风热风吹，使其乙醚完全挥发 。 B

26. 氢分析样品在研磨时用乙醚冷却，研磨时需要注意： 试样不能过热，否则容易引起氢逃逸 ;研磨好的试样表面应 无氧化层、无细小的缩孔 .切断试样时需注意：（1） 头部1cm 不用 ，（2） 切断后的试样要求试样中间无缩孔 ，（3） 并立刻放入乙醚中 B

27. 氧氮专用棒状样在研磨时必须用 乙醚 冷却，切断时试样 头尾1cm 能使用，切断后试样放入 乙醚 中。 B

28. 在超低碳分析时使用 刚经过高温处理过的 坩埚；经过高温处理后的坩埚在超过 30分钟 分钟后不能使用；经过高温处理后的坩埚在使用前需冷却 2分钟 分钟左右。坩埚高温处理时在马弗炉上处理的温度和时间 1100℃，保温2小时 ；在管式炉上处理的温度和时间 1200℃，15分钟 。 A （中、高）

29.X 荧光点检时包括哪九部分内容？①水冷却器: ②外循环水；③内循环水；④分光室温度检查；⑤探测器高压检查；⑥真空度检查；⑦氩甲烷气流量；⑧氩甲烷气出口压力；⑨氩甲烷气入口压力 。 A

30. 光谱分析室环境要求：（1）温度：…18oC －28oC …；（2）相对湿度：…20－80％…；（3）其它：灰尘少，无强力振动，无腐蚀气体，避免日光照射，仪器接地良好。C （中、高0

31. 当钢中的气体含量超过一定限度时，便会使钢产生 缩孔、气泡、疏松、点状偏析、裂纹 等缺陷。A （初、高）

32. 在TC-436氧氮分析仪中，用 金属铜 来达到净化载气的目的，其净化炉温度的标准值应为 600℃ 。 B （中、高）

33.RH-404定氢仪净化载气用 金属铜 ；EMGA-621定氢仪净化载气用金属铜和氧化铜。B

34. 在TC-436氧氮分析仪中，热导池基准的输出电压，低N 与高N 之比为 20:1。B

35. 钠石棉的作用是 吸收CO 2，无水高氯酸镁的作用是 吸收H 2O 。B （中、高）

36. 电子在核外排布遵循哪三大规律 ：1. 最低能量原理；2. 保里不相容原理；3. 洪特规则. A

37.MSA 的中文含义:测量系统分析. C

38.SPC 的中文含义:统计过程控制. C state process

39.A 管理：同一试样重复分析值的管理界限。 C （初、中、高）

40.B 管理：标准试样的分析值与标准值差的管理界限。 C （初、中、高）

41.C 管理：未知试样的仪器分析值与化学分析值差的管理界限。 C （初、中、高）

42. 在直读光谱仪中，凹面光栅具有双重作用。一方面用于衍射，另一方面用于聚焦。B

43. 透镜长期使用会受到污染，因此需要擦透镜. ，同时随着温湿度等外界因素的影响光路会发生漂移，因此需要描迹。 C

44. 扫描道工作时，入射狭缝的位置不变，分光晶体与接收狭缝及其相连的探测器均沿聚焦园运动，但后者与以两倍前者的速度运动，以满足布拉格衍射条件，同时还必须保持探测器窗口始终对准分析晶体的中心。 A

45. 为了提高分析准确度，在光谱定量分析中通常选用一条比较线，用分析线强度和比较线强度的比值进行光谱定量分析，这样可以使谱线强度由于实验条件波动引起的变化得到补偿。A

46. 对检测工作有影响的消耗材料需要品质验收，其中低碳低硫分析用的钨锡助熔剂验收手段：分析空白，5只数据的精度C 、S ≤0.5μg/g。 B

47. 在进行砂轮机磨样操作时，开机前必须检查砂轮是否有裂纹，同时为了防止铁削飞溅伤眼必须佩戴防护眼睛。C

48. 棒样破碎机使用前，应认真点检设备的电源、压缩空气、模具。C

49. 化学品应由专人负责管理，入库领用必须登记。B

50. 对使用X 荧光仪中突然发生射线外泄光闸关不掉情况，应立即切断仪器电源停止操作，通知仪修科，并及时报告部办。B

51. 盐酸等挥发试剂洒落，应及时用水冲洗，注意通风。C

52. 对硅碳棒熔融装置点检时，硅碳棒熔融炉温度应稳定在1085C 。A

53. 主原料玻璃珠熔融法制样加热时，自动搅拌加热18分钟，其中静止加热4分钟，炉倾14分钟，自旋12分钟，回转2分钟。B （中、高）

54. 判别铁水试样不良的外观检查有a 混入渣或其他夹杂的物质b 有较大气孔的c 成型平面裂纹或有很多小孔B

55. 计量检测设备须有检校状态标识，公司以颜色区分不同状态 绿色 代表合格证， 红色

代表禁用证， 深蓝 代表封存证。B o

56. 管理文件可以的控制可以采用 电子版 保存，但必须保证在使用文件的场所和个人能及

时获取文件，同时必须保证文件的有效性和唯一性。同时也可以采用 纸质版 保存，但必须受控，同时文件的发放及有效版本的跟踪和更新记录。B

57.X 射线也可以叫做电磁辐射，其波长范围10-5Å~100Å。B

58. 粉末压片法制样时，粒度一定时，压力越小，分析线强度越小。B

59. 所谓基体是指整个分析试样的元素，但不包括所要分析的元素。A

60. 荧光仪的准确度很大程度上取决于标样和校准函数。A （中、高）

61. 粒度效应，在试样小于无限厚度时，粒度效应随着试样减薄而减弱。A （中、高）

62.X 射线发射过程也可以以电子的形式释放，这个过程被称为俄歇效应。B

63. 铁水磨样时，禁止戴手套，握紧夹具，用力要保持平衡。C

64. 探测器输出的每个脉冲的最大振幅叫脉冲高度。B

65. 对验收合格的标准物质粘贴绿色可用标识，检测中心各作业区的标准物质保管人员负责保管，并存放在指定地点。B

66.A B C 类允许差表现了不同检测方法之间的偏差。B （中、高）

67. 氢是以 原子或离子 的形式溶于钢中，这是因为氢的原子半径远小于铁的原子半径，所

以氢能够溶于钢中，氢在钢中的溶解度随着温度的升高而 增加 ，随着压力的增大而 增大 。A

68．多道X 荧光仪所用为： Rh 靶。B