EYANG片式多层陶瓷电容器产品规格书
1.范围:
此规格书适用于下面列出的所有系列的片式多层陶瓷电容器(英文缩写MLCC): 介质特性组别:NP0(C0G/C0H)、X7R、X5R、Y5V; 产品尺寸规格:0402、0603、0805、1206; 标称电容量范围:0.5pF~1μF
2.产品的命名规则:
图1 产品外形示意图
表1 MLCC的尺寸规格 (单位: mm)
尺寸规格 0402
长度(L)
宽度(W)
端头宽度(L1、L2)
厚度(T)
厚度代码
0603
0805
1206
0.10~0.35 1.000.50-00.10~0.35 -0-0
0.15~0.60 1.60 0.80-0.050.15~0.60 -0-0.05 1.60+0.20-0+0.20-0 0.80+0.20-00.15~0.60 1.60+0.20-0+0.15-0.05 0.50+0.13-00.15~0.60 0.20~0.75 0.80-0.05 E 2.00+0.30-0.10+0.30-0.10 0.20~0.75 0.20~0.75 0.20~0.75 3.20±0.20 E ~3.20±0.20 O ~3.20±0.20 H ~0.25~0.75
介质特性组别
NP0 X7R X5R Y5V
表2 产品的介质特性组别 工作温度范围
-55℃~+125℃ -55℃~+125℃ -55℃~+85℃ -30℃~+85℃
温度系数或温度特性
C0G:0±30ppm/℃ C0H:0±60ppm/℃
±15% ±15% +22/-82%
表3 额定电压和标称电容量范围
尺寸 规格
额定电压 /UR
标称电容量范围
0402
0603
0805
1206
50V — 0.5pF~~、27nF~47nF 25V 470pF~~~~180nF ~~~180nF 100nF~~820nF 50V 0.5pF~~~~330nF 25V 1.8nF~~1.0μ~~820nF — 100nF~1.0μ~470nF 50V — 1.0nF~~820nF 100nF~820nF 25V 6.8nF~~820nF 1.0μ470nF~820nF 100nF/1.0μF——1.0μF—————
Y5V组别采用E6系列,X7R、X5R组别采用E12系列,C0G/ C0H组别采用E24系列,10pF以下规格
允许使用整数标称值,如:1.0、2.0、3.0pF等。
包装类型:
带式包装(标准载带圆盘包装),单盘最小包装数见表4。
表4 包装类型
产品尺寸TRT包装代码
6.3″ 7″″ 7″ 圆盘类型
载带类型 纸带 塑带 纸带 塑带 包装数(Kpcs) 3 2
第一次包装:每5盘装入1纸盒。
第二次包装:将第一次包装好的包装盒装入纸质包装箱,每个纸箱最多装12盒,箱内剩余空隙部位用轻质辅材填满。
以上包装形式亦可根据用户需要包装。
3. 技术规格和试验方法:
3.1 外观:
3.1.1 要求: 瓷体和端电极无明显伤痕。 3.1.2 试验方法: 在10倍显微镜下目测。
3.2 尺寸规格:
3.2.1 要求: 产品的外形和尺寸应符合图1及表1的要求。
3.2.2试验方法:使用精度不低于0.01 mm的量具测量。
3.3 工作环境:
NP0(C0G/C0H)、X7R X5R Y5V
温度: -55℃~+125℃; 相对湿度: ≤95%(25℃)大气压: 86 KPa ~106KPa 温度: -55℃~+85℃; 相对湿度: ≤95%(25℃)温度: -30℃~+85℃; 相对湿度: ≤95%(25℃)
大气压: 86 KPa ~106KPa 大气压: 86 KPa ~106KPa
3.4产品的电性能指标和试验条件:
条款
1
项目
电容量(C)
表5 电性能指标和试验条件
指标
符合标称电容量及其允许偏差范围
NP0(C0G/C0H): C≥30pF,tgδ≤10×10-4;
C
X7R: X5R:
-4
UR=50V tgδ≤350×10 UR =50V/25V tgδ≤750×10-4 UR =25V tgδ≤480×10-4 UR =16V tgδ≤800×10-4
UR =10V tgδ≤900×10-4 UR ≤16V tgδ≤500×10-4
UR=6.3V tgδ≤1000×10-4
Y5V:
UR ≥25V tgδ≤950×10-4 UR =16V tgδ≤1300×10-4 UR≤10V tgδ≤1600×10-4
NP0(C0G/C0H): C≤10nF时,Ri≥10000MΩ
C>10nF时,Ri×C≥500s
Y5V: X7R、X5R:
C≤25nF, Ri≥4000MΩ C≤25nF时,Ri≥4000MΩ
C>25nF, Ri×C≥100s C>25nF时,Ri×C≥100s
无击穿或飞弧
试验条件
温度: 18~28℃;
相对湿度: ≤RH 80%; 测试频率:
NP0(C0G/C0H)、:
C≤1000pF,f=1MHz±10%; C>1000pF,f=1KHz±10% X7R、 X5R、 Y5V:
C≤100pF, f=1MHz±10%;C>100pF, f=1KHz±10% 测试电压:
C≤100pF 1.0±0.2Vrms;
100pF<C≤1μF: 1.0±0.2Vrms 温度: 18~28℃;
相对湿度: ≤RH 80%; 施加额定电压60±5秒 NP0(C0G/C0H): 3×UR
X7R、X5R、Y5V: 2.5×UR t=1分钟
充、放电电流不超过50mA
2
损耗角 正切值 (tgδ)
3
绝缘电阻 (Ri)
4
耐电压 (TV)
注:2类陶瓷电容器电容量测试说明
去老化:当测试电容器的初始电容量低于其允许偏差值时,需对测试样品进行150℃±10℃热处理60±5
分钟,然后在室温条件下放置24±2小时,再测试其电容量。
3.5产品的技术要求和试验方法:
表6中“试验方法”,未做具体说明时,为依据GB/T 21041/21042 IDT IEC60384-21/22进行。
表6 产品的技术要求和试验方法
条款 项目 技术要求 试验方法
NP0(C0G/C0H):
αc ≤ ±30ppm/℃ (125℃); -72≤αc≤+30ppm/℃ ( -55℃);
(10pF以下不测该项,由介质材料特性保证) X7R、X5R:∆C/C ≤ ±15%
预先干燥:16~24小时NP0(C0G/ C0H),
在25℃、-55℃、125℃下测量电容量,符合相应的温度系数αc;
或150℃、1小时专门预处理后放置24小时(X7R、X5R、Y5V),分别在θ1、25℃、θ2下测量电容量,符合相应的电
1
电容量温度系数或温度特性
绝缘电阻 (Ri):
NP0(C0G/C0H): Ri≥2500MΩ 或 Ri×C≥50s,取较小者;
X7R、X5R、Y5V: Ri≥1000MΩ 或 Ri×C≥50s (UR≥25V),取较小者;
Ri≥1000MΩ 或 Ri×C≥10s (UR≤16V),取较小者。外观: 无可见损伤。
容量变化:
NP0(C0G/C0H): ∆C/C≤±7.5% 或 ±0.75pF,取较大者;
X7R: ∆C/C≤±12.5%; X5R: ∆C/C≤±15%; Y5V: ∆C/C≤±30%
损耗角正切(tgδ): NP0(C0G/C0H):
tgδ≤50×10-4 (C≥30pF) 或
tgδ≤ 5×(90/C+7)×10-4(C
Y5V:UR≥25V tgδ≤950×10-4
UR =16V tgδ≤1300×10-4 UR <16V tgδ≤1600×10-4。
绝缘电阻 (Ri): Ri≥500MΩ或Ri×C≥25s,取较小者外观: 无可见损伤容量变化:
NP0(C0G/C0H): ∆C/C≤±3%或 ±0.3pF,取较大者;X7R, X5R: ∆C/C≤±15%; Y5V: ∆C/C≤±30% 损耗角正切(tgδ): NP0(C0G/C0H):
tgδ≤20×10-4 (C≥30pF) 或
tgδ≤2×(90/C+7)×10-4(C
Y5V:UR≥25V tgδ≤950×10-4
UR =16V tgδ≤1300×10-4 UR <16V tgδ≤1600×10-4。 绝缘电阻 (Ri):
NP0(C0G/C0H): Ri≥1000MΩ 或 Ri×C≥50s,取较小者;
X7R、X5R、Y5V:
Ri≥1000MΩ 或 Ri×C≥50s (UR≥25V),取较小者;Ri≥1000MΩ 或 Ri×C≥10s (UR≤16V),取较小者。
10
潮湿负荷
根据JIS-C-5102 9.9条进行试验。
X5R、X7R、Y5V产品按上限温度、额定电压1小时进行前处理,然后在室温放置24±2小时后进行外观检查与电性能测试。
测试温度:60±2℃;
相对湿度:RH 90~95%; 测试电压:UR;
测试时间:500小时;
充、放电电流不超过50mA;然后在室温放置6~24小时 [NP0(C0G/C0H)]或24±2小时(X7R、X5R、Y5V)后进行外观检查与电性能测试。
11
耐久性
150℃、1小时专门预处理(X7R、X5R 、Y5V)后放置24小时; 测试温度:125℃(NP0(C0G/C0H)、X7R)或85℃(X5R 、Y5V) 测试时间: 1000小时 测试电压:1.5×UR
然后在室温放置6~24小时 [NP0(C0G/C0H)]或24±2小时(X7R、X5R、Y5V)后进行外观检查与电性能测试。