实验三 复反射系数
实验三 复反射系数(复阻抗)测量
一.实验目的
1. 了解测量线的基本结构和调谐方法,掌握微波晶体检波律的校准方法。
2. 了解驻波测量与阻抗测量的意义与相互关系,熟练掌握用测量线测量反射系数即复阻抗的基本方法。
3. 熟悉Smith 阻抗园图的应用。
二.实验原理
三.实验步骤
1. 测量线后接短路片。将信号调至最大,并用波长计测出工作频率f ,由此计算导波长λg 。计算导波长时,需矩形波导宽边的长度,
实验室所用的BD20系列波导的a=2.286cm。λg=λ/√1-(λ/λc)^2, λc=2a。
2. 在测量线后接短路片,用交叉读数法测出各最小点位置Dmin (需将系统灵敏度调至最佳状态,以提高最小点为止的测量精度),求导波长λg 。并与上面计算得的λg 相比较。
3. 在测量线后接匹配负载,用直接法测出其驻波系数。
4. 在测量线后接膜片+匹配负载,用直接法、二倍最小法、功率衰减法测量其驻波系数,并测出其最小点位置(均需用交叉度数法测量)。计算该负载的输入阻抗及输入导纳。功率衰减器的刻度通过查表得到衰减量(dB )。
5. 取下负载,测量线开口,测一下此时的驻波系数ρ及Dmin ,计算终端开口时的等效阻抗值。
6. 在测量线后接短路片,测量晶体检波律。
四.实验数据和计算过程:
1测量线后接短路片:
螺旋测微计读数为8.46mm ,经查表对应的频率为9.37GHZ 。根据公式λg=λ/√1-(λ/λc)^2,λ=c/f,λc=2a,经计算求出 λg=4.48cm
2. 测量线后接短路片:
3. 交叉读数法的数值分别为115mm 、108.3mm 和92.5mm 、85.8mm 。对应的Dmin1=111.65mm和Dmin2=89.15mm。
∆Dmin=22.5mm,λg=2∆Dmin=4.5cm。与上一组测得的结果4.48相比,相差不到0.5%。
3. 测量线后接匹配负载:
4. amax=1000,amin=920。在此默认晶体检波律为n=2,所以ρ=√amax/amin=1.043
4. 测量线后接膜片+匹配负载:
①直接法:ρ=√amax/amin=√1000/36=5.27.
②二倍最小法:ρ=√1+1/[sin(piW/λg )]^2,W=87.7-85=2.7mm λg=4.5cm,计算得ρ=5.43.
③功率衰减法:ρ=10^(∆A/20),
∆A=Amax-Amin=17.9-2.4=15.5dB,计算后得ρ=5.96.
④最小点位置为(87.7+85)/2=86.35mm.参考面位置为
89.6mm ,因此dmin=-3.25mm(因为最小点位置在参考面的负载段方向) 。ρ取平均值为5.53计算公式为:Z=1-jρtan (βdmin )/ρ-jtan (βdmin ),β=2pi/λg 经计算归一化阻抗Z=0.22+0.47j,归一化导纳Y=0.81-1.74j
5. 测量线开口:
ρ=10^(∆A/20),∆A=Amax-Amin=8.7-4.3=4.4dB,计算后得ρ=1.66,Dmin=(104.4+87.2)/2=95.8mm.dmin=6.2mm 计算公式为:Z=1-jρtan (βdmin )/ρ-jtan (βdmin ),β=2pi/λg 经计算终端开口的等效归一化阻抗值为Z=0.95-0.5j,归一化导纳 Y=0.824+0.434j。
6. 测量线后接短路片:
经计算,有:
Dmin=89.6mm,d1=11.7mm,d2=9.7mm,d3=8.7mm,d4=7.8mm,d5=7mm,d6=6.3mm,d7=5.5mm,d8=4.8mm,d9=3.8mm,d10=1.8mm.
a 相对=1,E 相对=0.998;a 相对=0.9,E 相对=0.977;a相对=0.8,E 相对=0.937;a相对=0.7,E 相对=0.886;a相对=0.6,E 相对=0.829;a相对=0.5,E 相对=0.771;a相对=0.4,E 相对=0.695;a相对=0.3,E 相对=0.621;a相对=0.2,E 相对=0.506;a相对=0.1,E 相对=0.249.
五.结果分析
1. 测量导波波长:经查表读出的频率为9.37GHZ ,与信号源发出的频率9.37GHZ 相吻合。两种测量方法相比较,第一种误差取决于波长计的精度和实验室中波速v 与光速的误差程度,而第二种则从
另外一个角度出发,直接在测量线上测量λg ,误差取决于读数的准确度。得出的结果为λg=4.5cm(4.48cm )
2. 测量匹配负载的驻波系数:采用直接法测量,得出结果为 ρ=1.043,与理论值1基本吻合,负载的匹配程度很好。
3. 测量膜片+负载的阻抗:需要借助等效参考面进行计算,本实验中,采用的参考面为89.6mm 。在计算dmin 的时候会出现负值,原因是Dmin 在参考面的偏负载一端。得出的数值为:ρ=5.53,归一化阻抗Z=0.22+0.47j。
4. 测量开路时的阻抗:归一化阻抗Z=0.95-0.5j,与理论值差距很大,这里考虑空气本身是良好的微波介质,所以简单地不接负载并不能视为是理想开路条件。
5. 测量晶体检波律:选取了10个点,晶体检波律n 取值从1.66到4.53变化,由表格可见,在信号偏小的时候晶体检波律可视为2,将检波律的偏差视为测量误差进行考虑,但在信号较大时便要读取a 、E 关系曲线上的数值进行计算了。
六.思考题
1. 用测量线测微波阻抗应注意什么问题?为什么能用测等效参考面阻抗的方法确定待测阻抗?
①确定等效参考面,测出驻波比ρ导波波场λg 和最小点到负载距离dmin ,即可测出微波阻抗。
②由于测量线的位置标尺并不是从测量线终端开始刻度的,因而无法直接测量dmin 。在传输线上每隔n λg/2处的阻抗值相等,故可
以测等效参考面的阻抗确定待测阻抗。
2. 能否从你所测得的数据中求出膜片本身的阻抗?你能否考虑出测量膜片阻抗的其他方法?
①可以,因为膜片+匹配负载的并联接入,可以将输入导纳的值减去归一化匹配负载导纳1,剩余值即为膜片的导纳,再经过运算即可得到膜片的阻抗。
②可以用自动测量线直接测量膜片+负载的导纳和负载的导纳,二者直接相减。可以减小由于负载并不完全匹配所带来的误差。
3. 试比较实验中所用的三种驻波系数测量方法的特点。
①直接法:测试范围受限于检波晶体的噪声电平及平方律检波范围,通常ρ
②二倍最小法:ρ越大时,w/λg 的值就越小,因而宽度W 和导波波长λg 的测量精度对测量结果影响很大,是此种方法的主要误差来源,适用于大中驻波比如ρ>3--5.
③功率衰减法:此种方法是一种简便准确的驻波测量方法,其测量精度与晶体检波律、测量放大器的线性无关,而主要取决于衰减器校准精度和测量电路的匹配情况。
4. 测量线后不接负载,ρ=∞吗?为什么?如何得到理想的开路条件?
①不等于,因为可视为接入了空气作为负载,由于电磁波可以在空气中很好地传播,故微波中的开路无法以不接负载的方法实现。
②可以通过阻抗变换的方法,接入短路片后再接λ/4阻抗变换
器,即可得到理想的开路条件。