高低温对闪存误码率的影响(低温篇)
日期：2016-09-18 标签：高低温对闪存误码率的影响（低温篇） 来源：瑞耐斯存储技术-微信公众号
温度对电子产品性能和稳定性的影响是毋庸置疑的，对于提供工业和军工级别的SSD厂商来说，不仅仅是选用工规器件那么简单，从控制器参数的冗余设定到外围电路的布线、PCB板材的选择都需要经过真正的高温、低温测试才能得出精确的参数。
低温测试是件耗时、费电的工作，5000W的降温设备嗡嗡响了整整两天。
高低温测试过程中最大的问题在于从低温到高温转换的过程中，芯片管脚和底部的结霜会融化，很容易造成短路。低温状态下，线路板和元器件表面完全被结霜所覆盖：
从低温箱中取出，线路板表面很快就被水分覆盖：
首先看MLC低温测试
低温测试温度区间包括：
-40°C，-45°C，-50°C，-55°C，-60°C，-65°C
兵哥跟进测试结果总结了一下，不同温度对应原始误码率如下：
图片与真相请继续往上拨屏幕：
-40°C 原始误码率：
-45°C原始误码率：
-50°C原始误码率：
-55°C原始误码率：
-60°原始误码率：
最后一个，-65°C原始误码率：
低温条件下，SLC则有不同表现：
继续向上拨屏幕或者眼珠往下转：
-40°C SLC原始误码率：
-45°C SLC原始误码率：
-50°C SLC原始误码率：
-55°C SLC原始误码率：
-60°C SLC原始误码率：
-65°C SLC原始误码率：
小结：
1、从测试结果看，低温对MLC的影响比较大，而对SLC影响非常小，MLC原始误码率随温度下降而增长。
2、可靠性方面，在低温环境下，SLC比MLC可靠很多，如果想大约在冬季收复膏药国，寒冷的北方战场，SLC会在低温环境下发挥超乎寻常的稳定作用。
3、使用MLC做SSD， 固件参数要进行调整，Timing的冗余要足够才能保证MLC在低温环境下正常无误的工作。
当然，这一切，只是表面……
其实，SLC在低温下也如在风中一样的凌乱：
-55°C 写操作时间分布：
-60°C 写操作时间分布：
-65°C 写操作时间分布：
而，正常情况下，最大、最小和平均分布是非常均匀、有规律的。
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