载流子迁移率计算方法(VASP,ORIGIN)
10-04
计算公式：
半导体物理书上也有载流子迁移率的公式，但是上面的是带有平均自由时间的公式，经过变换推倒，就成了上面的那个公式，因此要用vasp 计算的参数有，S l ,m e ,m d ,E l 这四个参数，其他的都是常数，可以查询出来带入公式。
参数：S l
, 就是需要我们先用vasp 计算出声子谱，我们要对声子谱求导，取导带底处的值，对应的就是电子迁移率的S l 所以需要学会怎么使用phonopy
m e
:
带底对应的值。
m d: 就是电子的有效质量，要用origin 对能带图求二次导，取导
mx就是布里渊区X 方向的有效质量，my 就是y 方向的有效质量，
先用笔算出G 到K,M 向量，然后分别作这两个向量的垂直向量，在这两个向量方向上取20个权重为0的点，放到KPOINTS 中，按照以前的方法，算出来的能带就是x 方向上的和y 方向上的，然后就可以算出x,y 方向上的有效质量。
E l
:把公式变形一下，E l ，放在一边，其他的放在另一边，δV 就是原来晶胞的体积改变量，δE 就是对应能量的该变量，V0
就是晶胞原来
的体积，也就是说，我要把原来的晶胞任意改变一下大小，算出导带底能量的变化量，进而就算出了E l 这个量。
以上这四个量算出来之后，带入公式计算就可以得出电子的迁移率公式。
电子迁移率主要受到：声学支波散射，光学支波散射，电离杂质杂质散射的影响，因为后二者没有第一个影响大，所以我们计算的迁移率包含的就是在声学支波散射作用下的迁移率。（半导体物理书上都很仔细的介绍。）