高危新生儿中枢神经系统损害的CT诊断
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高危新生儿中枢神经系统损害的CT 诊断
【摘要】目的:明确ct 对高危新生儿中枢神经系统损害的诊断价值。方法:回顾性分析16例高危新生儿头颅的ct 表现。结果:发现高危新生儿中枢神经系统损害主要ct 征像有蛛网膜下腔出血、硬膜下出血、脑实质出血、脑室内出血、脑缺血缺氧性损害、新生儿败血症等, 还有部位高危新生儿ct 检查无明显异常改变。结论:应用ct 检查对高危新生儿中枢神经系统损害及时诊断, 以便及早处理很有帮助。
【关键词】高危新生儿; 中枢神经系统损害; 断层摄影;x 线计算机
【中图分类号】r135【文献标识码】a 【文章编号】
1005-0515(2010)010-0026-01
新生儿中枢神经系统疾病的临床症状和体征大致相同, 而高危新生儿中枢神经系统损害又比较常见, 应用ct 检查, 对高危新生儿中枢神经系统损害能及时进行诊断, 以便临床及早地采取合理的治疗方案, 减少高危新生儿的死亡率。本文通过回顾我院2002年2月~2009年11月间15例高危新生儿的头颅ct 征像, 旨在探讨ct 对高危新生儿中枢神经系统损害的诊断价值。
1 材料与方法
本组病例16例, 男9例, 女7例。胎龄34～41周, 出生体重2200～4200g, 平均2858g 。其中重度窒息4例, 轻度窒息10例。
采用日本岛津公司sct~4500t机型全身ct 机和荷兰飞利浦公司螺旋ct 机扫描, 以om 为基线, 层厚机层距7～10mm, 对可疑层面选用